“X izpien bidezko tomografia da metrologiaren etorkizuna”

X izpien bidezko tomografia konputerizatua aurrerapen ikaragarriak ari da eragiten neurketa industrialean. “Tomografia: teknologiak eta aplikazioak” jardunaldiaren ondorio garrantzitsuetako bat izan da hori. Arrakasta handiz egin berri da jardunaldia, hauek antolatuta: IK4-TEKNIKERek, ingurune industrialetan erreferentzia den zentro teknologikoak, eta ZEISSek, metrologia- eta mikroskopia-soluzioetan liderra den enpresak.

3D neurketako eta karakterizazioko teknologia norantz doan ikusteko aukera izan zuten jardunaldiko parte-hartzaileek. Aditu gehienen iritziz, X izpien bidezko metrologia da jarraitu beharreko joera, abantaila handiak baititu: piezaren 3D karakterizazio ultradoia egin daiteke, kanpotik nahiz barrutik, eta horrek dimentsio-kontrol automatikoa ukipenik gabe egiteko aukera ematen du; CAD-konparatiboa; mihiztatze-kontrola; akatsen eta lodieren analisia, eta atzeranzko ingeniaritza, besteak beste.

Ukipenik gabeko neurketa

IK4-TEKNIKEReko adituen arabera, “abiadura lehenesten du joerak. Sistema optikoen bidez —normalean, ukipen-sistemak baino bizkorragoak dira— eta sentsore anitzeko sistemen bidez neurtzea da joera, ekipamendu desberdinak erabili beharrik ez izateko".

ZEISSek, berriz, 3D metrologia nola aldatu den X izpien bidez azaldu zuen, eta era askotako piezen —saiakuntza suntsitzaileak behar zituztenak barne— 3 D bolumenak sortzeko diseinatutako METROTOM ekipamenduen aplikazio batzuen berri eman zuen. Bi software nabarmendu zituen: koordenatu bidez neurtzeko makina guztientzako CALYPSO metrologia-softwarea, eta emaitzak, SPC estatistika-kontrolak eta txosten interaktiboak kudeatzeko PiWeb software integratua.

Jardunaldiko parte-hartzaileek X izpien bidezko mikroskopia-teknologia ere ezagutzeko aukera izan zuten, batez ere Xradia Versa familia. Haren bidez, oso bereizmen handia lortzen da 3Dn, bai eta 3Dko irudi eta berreraikuntza zehatzagoak eta kontraste handiagokoak ere. Bestetik, Xradia Ultra familia da sinkrotroiaren X izpi bidezko teknologia optiko bat duen merkatuko bakarra. Hori dela eta, X izpi bidezko tomografia-ekipamendu batean bereizmenik handiena eskaintzen du.